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BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4?重復(fù)性的表現(xiàn)，并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng)，在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測(cè)量方面設(shè)立了新的目標(biāo)，是微電子......
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用于病毒采集、轉(zhuǎn)運(yùn)和保存的通用培養(yǎng)基Copan通用轉(zhuǎn)運(yùn)培養(yǎng)基（UTM®）系統(tǒng)用于采集、轉(zhuǎn)運(yùn)和保存含you病毒、衣原體、支原體和脲原體的臨床樣本。UTM®通用性及自動(dòng)化UTM®能夠兼容后續(xù)抗原檢測(cè)和分子分析。研究人員既可以對(duì)樣本進(jìn)行手動(dòng)處理，也能用CopanUniverse™等實(shí)驗(yàn)室自......
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掃描探針顯微鏡的工作原理是基于微觀或介觀范圍的各種物理特性，通過(guò)原子線度的極細(xì)探針在被研究物質(zhì)的表面上方掃描時(shí)檢測(cè)兩者之間的相互作用，以得到被研究物質(zhì)的表面特性，不同類型的SPM之間的主要區(qū)別在于它們的針尖特性及其相應(yīng)的針尖樣品相互作用方式的不同。工作原理來(lái)源于量子力學(xué)中的隧道貫穿原理。其核心是一個(gè)能在樣品表面上掃描、......
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用于科研和工業(yè)研發(fā)的近紅外光致發(fā)光模塊對(duì)于半導(dǎo)體和光電行業(yè)來(lái)說(shuō)，光致發(fā)光PL是在研發(fā)過(guò)程中極為重要的一個(gè)實(shí)驗(yàn)工具。在紅外光譜范圍，傅立葉紅外光譜儀比傳統(tǒng)色散型譜儀的靈敏度要高得多。與VERTEX傅立葉紅外譜儀聯(lián)用的PLII模塊提供了業(yè)內(nèi)最靈活和強(qiáng)大的PL分析方案?！た蓪?shí)現(xiàn)對(duì)塊狀樣品、量子阱和量子點(diǎn)樣品的PL分析，在40......
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FTIR傅里葉紅外在硅材料分析中的應(yīng)用用于超高靈敏度硅材料質(zhì)量控制分析的分析儀CryoSAS是一款低溫硅材料分析儀，可用于太陽(yáng)能和電子硅行業(yè)的超高靈敏度質(zhì)量控制。它可以同時(shí)定量分析碳、氧以及淺層雜質(zhì)（如硼、磷、砷等）。根據(jù)ASTM/SEMI標(biāo)準(zhǔn)，CryoSAS操作簡(jiǎn)便，無(wú)需液氦等制冷劑。相比于傳統(tǒng)的濕化學(xué)分析法，Cry......
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