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BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4?重復(fù)性的表現(xiàn)，并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng)，在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測(cè)量方面設(shè)立了新的目標(biāo)，是微電子......
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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），一種可用來(lái)研究包括導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它的橫向分辨率可達(dá)0.15m，而縱向分辨率可達(dá)0.05m，AFM最大的特點(diǎn)是可以測(cè)量表面原子之間的力，AFM可測(cè)量的最小力的量級(jí)為10-14-10-16N。AFM還可以測(cè)量表面的彈......
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賽默飛X射線衍射儀是一種實(shí)驗(yàn)室中常用的分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料分析、結(jié)構(gòu)研究等領(lǐng)域。使用時(shí)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)需要注意實(shí)驗(yàn)條件的選擇、樣品制備的方法、實(shí)驗(yàn)操作的技巧以及對(duì)數(shù)據(jù)的處理和分析。只有掌握了正確的方法和技巧，才能得到準(zhǔn)確可靠的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。賽默飛X射線衍射儀的使用方法：首先，要選擇適當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)條件。X射線衍射實(shí)驗(yàn)需要使用高能的X......
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新產(chǎn)品有售！布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000、NPFLEX-1000布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000落地式ContourX-1000白光干涉（WLI）系統(tǒng)集成了Bruker在硬件和軟件上的新技術(shù)，可用于全自動(dòng)三維表面紋理和粗糙度測(cè)量。布魯克三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX-1000落地式NPFLE......
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掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM，磁力顯微鏡MFM等等）的統(tǒng)稱，是國(guó)際上近年發(fā)展起來(lái)的表面分析儀器，是綜合運(yùn)用光電子技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械設(shè)計(jì)和加工、......
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