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  • bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200
    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2638廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • 布魯克納米壓痕Hysitron TI 980
    布魯克納米壓痕Hysitron TI 980同時(shí)具有靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺(tái)行業(yè)系統(tǒng)以數(shù)十年的 Hysitron 技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ),在納米力學(xué)特性測試方面提供更高水平的非凡性能、增強(qiáng)的功能和多功能性。Hysitron TI 980 納米壓痕儀是一臺(tái)納米力學(xué)測試儀器,在準(zhǔn)確控制、測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面都取
    更新日期:2024-12-02訪問量:2488廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89
    Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 電容傳感技術(shù),繼承了商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2430廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • TS 77 Select布魯克BRUKER納米壓痕儀
    布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動(dòng)化臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng),可提供同類儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測試系統(tǒng)以布魯克的TriboScope電容式傳感器技術(shù)為設(shè)計(jì),在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。TS 77 精選 支持最主流的測試模式,是定量納米壓痕、動(dòng)態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價(jià)比解決方案。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2174廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Dimension FastScanBRUKER原子力顯微鏡
    為滿足AFM使用者對(duì)提高AFM使用效率的需求,Bruker開發(fā)了BRUKER原子力顯微鏡Dimension FastScan,不降低分辨力,不增加設(shè)備復(fù)雜性,不影響儀器操作成本的前提下,幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng),即時(shí)快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2252廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    現(xiàn)在聯(lián)系
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