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rtesp - 300探針 bruker 原子力顯微鏡探針

rtesp - 300探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規(guī)范幾何形狀矩形懸臂梁數(shù)量:1 懸臂厚度(Nom):3.4um 懸臂厚度(RNG:265~4.15m

更新日期：2024-12-02訪問量：1674廠商性質：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
SmartProber TTBruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT 具有平面內磁鐵的低成本臺式 CIPT 系統(tǒng)，適用于研究和開發(fā) 這種低成本的臺式設備配有手動 xy 定位、全自動探頭著陸、平面內磁鐵和抗震臺。

更新日期：2024-12-02訪問量：2856廠商性質：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
SmartProber-P1Bruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1 ——用于企業(yè)研發(fā)和故障分析中 300mm 晶圓應用的電動系統(tǒng)

更新日期：2024-12-02訪問量：2486廠商性質：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE

Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進多模計量 FilmTek™ 2000標準桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結合了FilmTek技術，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有先進薄膜測量應用提供了業(yè)界的精度、精度和多功能性。其標準的小點測量尺寸和模式識別能力使該系統(tǒng)成為表征圖案化薄膜和產(chǎn)品晶片的理想選擇。

更新日期：2024-12-02訪問量：3152廠商性質：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker FilmTek CD橢偏儀

Bruker FilmTek CD橢偏儀 ——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進薄膜計量學 FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設計節(jié)點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和*未知結構的實時多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中最復雜的半導體設計特征相關的挑戰(zhàn)性需求。

更新日期：2024-12-02訪問量：2994廠商性質：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系

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